Serbuk ultrafine (juga dikenali sebagai serbuk ultrafine) biasanya merujuk kepada serbuk dengan a saiz Zarah di bawah 1250 mesh (10μm). Ia dibahagikan kepada serbuk mikron, serbuk submikron dan serbuk nano. Apabila jirim pepejal dihancurkan kepada skala mikron atau bahkan nanometer, fizikalnya dan kimia sifat akan berubah dengan ketara. Ini menjadikan serbuk ultrafine topik hangat dalam penyelidikan saintifik dan aplikasi industri. Serbuk ultrafine memainkan peranan penting dalam industri moden. Ia digunakan secara meluas dalam elektronik, industri ringan, bahan kimia, ketenteraan, perubatan tradisional, pertanian, dan makanan. Serbuk ini memacu kemajuan industri dan teknologi. Analisis tepat pencirian serbuk ultrahalus, seperti saiz zarah, bentuk, pengedaran, dan sifat permukaan adalah penting. Ia secara langsung menjejaskan kecekapan R&D dan pengoptimuman proses. Menguasai kaedah pencirian serbuk ultrahalus memastikan sokongan teknikal yang kukuh untuk kedua-dua penyelidikan dan pengeluaran.
Kaedah Perwatakan Utama
Pada masa ini, pencirian serbuk ultrahalus termasuk analisis saiz zarah, penentuan luas permukaan tertentu, pencirian komposisi kimia dan struktur fizikal, dan pencirian aglomerat.
Analisis Dinamik
Saiz zarah merujuk kepada saiz bahan selepas penyebaran halus. Kaedah utama yang boleh digunakan untuk analisis saiz zarah serbuk ultrafine ialah: kaedah penyebaran pembelauan laser, kaedah pemendapan, kaedah rintangan dan kaedah mikroskop elektron, serta kaedah lebar garis pembelauan sinar-X.
Pengukuran Luas Permukaan Tertentu
Dalam penyediaan bahan yang tersebar halus, apabila saiz zarah menjadi lebih kecil dan lebih kecil, semakin banyak permukaan zarah terbentuk. Ini menyebabkan perubahan besar dalam tenaga permukaan, dan konsep luas permukaan tertentu digunakan untuk menghubungkan kawasan permukaan zarah dengan saiz zarah. Iaitu: luas permukaan spesifik isipadu = jumlah luas permukaan zarah/jumlah isipadu zarah. Luas permukaan tentu jisim = jumlah luas permukaan zarah/jumlah jisim zarah. Dalam aplikasi praktikal, luas permukaan khusus serbuk boleh diukur dengan kaedah penjerapan, kaedah haba rendaman dan kaedah resapan. Kaedah yang mana untuk diguna pakai bergantung pada keperluan dan keadaan pengukuran seperti bahan dan peralatan.
Komposisi Kimia dan Pencirian Struktur Fizikal
Kaedah analisis kimia klasik adalah tepat, tetapi dihadkan oleh bahan serbuk dengan kestabilan kimia yang baik. Sebaliknya, analisis instrumental menunjukkan kelebihan unik. Kelebihan pengimbasan mikroskop elektron ialah kedalaman medan yang besar, imej tiga dimensi, dan pembesaran yang tinggi. Selain itu, penyediaan sampel adalah mudah dan kerosakan elektronik pada sampel adalah kecil. Komposisi permukaan sampel boleh dikesan secara langsung dan komposisi kimia kawasan mikro boleh dianalisis. Difraksi polihablur sinar-X membantu analisis fasa. Ia menyelesaikan had kaedah spektroskopi kimia dan atom. Kaedah tradisional ini mengesan unsur tetapi bukan fasanya. Difraksi sinar-X mendedahkan fasa sebenar yang terdapat dalam sampel.
Pencirian Aglomerat
Sifat-sifat aglomerat boleh dibahagikan kepada saiz, bentuk, taburan, dan kandungan aglomerat. Keliangan, saiz liang, dan taburan aglomerat. Ketumpatan, struktur mikro dalaman, dan kekuatan aglomerat. Sifat ikatan antara zarah primer dalam aglomerat, dsb. Kaedah yang biasa digunakan untuk pencirian aglomerat ialah pemerhatian struktur mikro tradisional, kaedah tekanan ketumpatan embrio, dan kaedah pencerobohan merkuri, dsb. Selain itu, terdapat juga teknologi baru muncul seperti kaedah resonans magnet nuklear medan rendah.
Kesimpulan
Ciri-ciri serbuk ultrahalus sebahagian besarnya menentukan prestasi mereka dalam pelbagai bidang. Oleh itu, pencirian yang tepat bagi saiz zarah, luas permukaan tertentu, komposisi kimia, struktur fizikal dan keadaan aglomerasi adalah penting. Kaedah yang berbeza mempunyai kelebihan dan batasan mereka sendiri. Memilih kaedah pencirian yang betul memerlukan pertimbangan menyeluruh tentang sifat serbuk, keperluan aplikasi dan keadaan ujian. Pada masa hadapan, dengan kemajuan sains dan teknologi, ketepatan, kelajuan dan tahap automasi kaedah pencirian akan terus bertambah baik. Ini akan memberikan sokongan teknikal yang lebih dipercayai untuk penyelidikan dan penggunaan serbuk ultrahalus. Ia juga akan menggalakkan lagi pembangunan dan inovasi industri berkaitan.